2017年6月7日(水)～9日(金) に開催された「画像センシング展2017」に出展しました。
たくさんの方にご来場頂き、心より感謝申し上げます。
出展内容
RSCIM（新製品）
CCDカラーカメラを用いた垂直反射率画像計測装置です。
約4mm（約19万点）の反射率（R,G,B）を、開発したデータ処理により表面粗さと反射色彩値の同時測定が可能です。応用例として干渉色よりシリコンウェハー上の酸化膜厚の測定および二次電池塗工膜厚・密度測定も可能です。
ブースにて製品紹介、応用例のビデオ上映を行いました。
◆画像処理による製品検査等のご相談
- 開催日時
- 2017年6月7日（水）~9日（金）10:00~17:00
- 開催場所
- パシフィコ横浜 展示ホールD
小間番号 ２６番