「画像センシング展2017」に出展しました。【開催日:2017年6月7日(水)~9日(金)】

2017年6月7日(水)~9日(金) に開催された「国際画像機器展2017」に出展しました。
たくさんの方にご来場頂き、心より感謝申し上げます。

出展内容

RSCIM(新製品)

CCDカラーカメラを用いた垂直反射率画像計測装置です。
約4mm(約19万点)の反射率(R,G,B)を、開発したデータ処理により表面粗さと反射色彩値の同時測定が可能です。応用例として干渉色よりシリコンウェハー上の酸化膜厚の測定および二次電池塗工膜厚・密度測定も可能です。

ブースにて製品紹介、応用例のビデオ上映を行いました。

◆画像処理による製品検査等のご相談
 

開催日時
2017年6月7日(水)~9日(金)10:00~17:00
開催場所
パシフィコ横浜 展示ホールD
小間番号 26番