08国際画像機器展　出展のご案内

2008年11月30日 ccd | 個別ページ

この度「'08国際画像機器展」へ弊社製品の出展を予定しております。 下記の製品を出展、デモンストレーションを行っておりますので、この機会にぜひ、ご覧いただきたいと存じます。　ご来場を心よりお待ち申し上げます。
　

日　時：２００８年１２月３日(水)～５日(金)　１０：００～１７：００
場　所：パシフィコ横浜 展示ホールＤ
ブース：小間番号 ８１

錠剤検査装置

ベルトコンベア上を並列に流れる錠剤の表裏の画像をラインカメラで入力、パソコンで画像処理を行い、表面の汚れ・異物・割れ等の外観不良を検査します。オプションで側面の外観検査も行います。不良を検知すると信号を出力し、不良品を排除、画像・データを保存します。錠剤をベルトコンベアで運ぶ為、検査による錠剤の破壊が少なく、目視検査ラインへの組み込みが容易です。

画像処理装置　ＰＲＯ－７（カラー対応）

ラインカメラのデータを二次元画像として入力し、画像処理を行う装置です。研究用の他に、粒度分布測定によるチップカウンタ、ピッチ（寸法）・面積測定など、実用機としても幅広くご利用いただけます。モノクロだけでなく、カラーラインカメラによる入力・処理にも対応します。

外観検査装置　ＧＫ－２０００

ラインカメラによるオンライン用外観検査装置です。連続して流れるシート状製品表面の汚れ、傷、異物等の外観不良を検査します。カメラ複数台による幅広いワークの検査にも対応します。不良部分のＸＹ座標、面積、マップ表示の他に、不良部分の画像保存も行います。シート状製品だけでなく、板・フィルム・ディスク等や円筒状製品の外観検査にもご利用いただけます。
　
　画像処理による製品検査等のご相談も受け付けております。
　　当日、製品サンプル（良品、不良品）をご持参ください。
　展示会終了後もご希望の方には弊社にてデモを行っております。ご連絡下さい。
　当日ご都合のつかない方は、資料をご請求ください。別途送付いたします。