「画像センシング展2019」に出展しました。

2019年6月12日(水)~14日(金)に開催された「画像センシング展2019」に出展いたしました。
たくさんの方にご来場頂き、心より感謝申し上げます。

出展内容

RSCIM(新製品)

CCDカラーカメラを用いた垂直反射率画像計測装置です。
約4mm(約19万点)の反射率(R,G,B)を、開発したデータ処理により表面粗さと反射色彩値の同時測定が可能です。応用例として干渉色よりシリコンウェハー上の酸化膜厚の測定および二次電池塗工膜厚・密度測定も可能です。

ブースにて製品紹介、応用例のビデオ上映を行います。

◆画像処理による製品検査等のご相談
 

開催日時
2019年6月12日(水)~14日(金)10:00~17:00
開催場所
パシフィコ横浜 展示ホール
小間番号 14 番